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2010年11 期
| 標題 |
| 64D半自動閉塞測試系統(tǒng)開發(fā)(19 卷) |
| 英文標題 |
| Development of 64D Semi-automatic Block Test System |
| 摘要 |
| 根據(jù)64D半自動閉塞的技術(shù)要求和工作原理，設(shè)計出一種新的繼電半自動閉塞設(shè)備的電子化測試系統(tǒng)，并對其硬件和軟件設(shè)計作了詳細說明，同時對該測試系統(tǒng)代替現(xiàn)有的64D半自動閉塞設(shè)備進行探討。該測試系統(tǒng)的設(shè)計遵循“故障—安全”原則，保證了系統(tǒng)的安全性和可靠性。 |
| 作者 |
| 新聞作者:葉一彪，何 濤，吳偉鍇 |
| 關(guān)鍵字 |
