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2010年06 期
| 標(biāo)題 |
| CTCS3級(jí)列控系統(tǒng)RAM指標(biāo)評(píng)價(jià)方法研究(31 卷) |
| 英文標(biāo)題 |
| Research on the Evaluation Method for the RAM Goals of CTCS3 |
| 摘要 |
| 為評(píng)價(jià)CTCS3級(jí)列控系統(tǒng)的可靠性、可用性和可維護(hù)性（RAM），對(duì)系統(tǒng)逐層向下分解并建立可靠性框圖，可靠性框圖的最低層次定位到現(xiàn)場(chǎng)可更換的最小部件。通過可靠性預(yù)計(jì)和可維護(hù)性預(yù)計(jì)得出最小可更換部件的故障率和維修率，然后利用馬爾可夫過程計(jì)算模型，根據(jù)可靠性框圖自下而 |
| 作者 |
| 新聞作者:邸麗清，袁湘鄂，王永年 |
| 關(guān)鍵字 |
